Электронная микрофотография
Ментер (1952 г.) разработал простую модификацию электронного микроскопа на прохождение, позволяющую делать четкие микрофотографии на отражение с хорошей разрешающей способностью и значительной глубиной фокуса. Такие микроскопы получили широкое распространение.
В качестве типичного примера показаны ступеньки на слюде высотой всего в несколько слоев молекул слюды, полученные подобным путем. На приложении I. 2 показана дорожка трения, образованная на хорошо отполированном участке медной поверхности после единичного прохода индентора (ползуна) при нагрузке 20 г. Наблюдение велось с помощью отражательного электронного микроскопа.
При обычных методах исследования неповрежденная часть поверхности кажется блестящей, гладкой, и оптический микроскоп не выявляет структуры поверхности. Горизонтальное увеличение приведенной фотографии приблизительно 1000, причем видно, что поверхности не плоские, а покрыты сериями гребней и борозд.
Представляет интерес исследование дорожек трения, при котором обнаруживается типичное пропахивание и срез в результате скольжения. Разрешающая способность этого метода меньше, чем при исследовании объекта в проходящем свете; в лучшем случае можно наблюдать детали поверхности размерами не менее нескольких сотен ангстрем.
В некоторых случаях этот метод, обеспечивающий большую глубину резкости, позволяет выявлять ступеньки высотой до 20 А. Он был использован для изучения износа алмазных поверхностей, а также для изучения структуры и поверхностного разрушения синтетических волокон.
В 1960 г. Холлидей и Ньюмен получили разрешение на отражение до 100 А и менее.
