Рентгеновский сканирующий микроанализатор
Левый конец кристалла находится в тесном контакте с нижележащей металлической пластиной, где он начинает разлагаться в первую очередь. Видно, что разложение кристалла протекает неоднородно и не является поверхностным процессом.
Разложение имеет место внутри кристалла, который распадается на блоки (фрагменты) размерами в несколько десятков микрон (Боуден и Синг, 1954 г.). Затем блоки распадаются на серебро и азот, причем серебро остается в виде малых включений. При изучении особенностей деталей поверхностей Атак и Смит использовали сканирующий микроскоп для исследования структуры волокон древесины.
В этом случае обычный метод исследования быстро приведет к обугливанию и разложению волокон.
Фрикционные свойства дерева рассматриваются в гл. XIV. В настоящее время для изучения как топографии, так и микрохимического состава деталей поверхности применяется новый метод исследования.
Он сочетает электронную микроскопию с рентгеновским анализом. Если тонкий пучок электронов сфокусировать на образце, то образец будет испускать рентгеновские лучи, характерные для облучаемого элемента.
Эти рентгеновские лучи могут быть проанализированы так же, как это было впервые показано Кастингом и Гинье (1949 г.), причем можно сделать заключение о концентрации элемента в облучаемой зоне.
При современном уровне техники можно сфокусировать электронный пучок в зоне диаметром меньше Ю-4 ом, и при благоприятных условиях минимальное количество данного элемента, которое может быть определено, составляет Ю-1 г. Этот метод был в дальнейшем развит Косслетом и Дупкумбом (1954 г.), Дункумбом (1957 г.), Медфордом и Дункумбом (1958 г.).
