Рентгеновский анализатор
Дифракция электронов давно используется для изучения тонкой структуры поверхности твердых тел и поверхностных пленок. Мы, например, использовали этот метод для изучения ориентации и структуры адсорбированных монослоев органических смазок с длинной молекулярной цепочкой. Метод можно использовать для изучения топографии поверхности, но с некоторыми предосторожностями (Томпсон, 1953 г.). Однако наиболее полезен этот метод при изучении поверхности твердого тела и подповерхностных слоев.
Вильман изучал с помощью дифракции электронов воздействие трения и шлифования на металлическую поверхность (Скотт и Вильман, 1958 г.). Он стравливал поверхностные слои таким образом, чтобы можно было наблюдать нижележащий материал.
Его результаты приводят к простому и очень интересному выводу. У многих металлов в слоях, расположенных непосредственно под поверхностью трения, имеется волокноподобная ориентация.
Ось волокна наклонена в сторону, противоположную направлению скольжения. Если угол наклона к нормали обозначить 9, то в первом приближении 0 равен наблюдаемому коэффициенту трения р. Это значит, что ось волокон располагается в направлении равнодействующей нормальной и тангенциальной сил (силы трения).
Поэтому во время скольжения материал, расположенный непосредственно под поверхностью взаимодействия, деформируется практически чистым сжатием. Типичное изображение (модель) этого явления.
Несмотря на то, что обобщение возможно, имеется ряд трудностей при его использовании.
Например, может показаться, что действительная поверхность взаимодействия, по которой происходит скольжение, не имеет подобной ориентации.
